GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）
GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）
關(guān)鍵詞：高溫介電測試溫譜儀、高溫介電性能測量系統(tǒng)、高溫介溫譜能系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹：
GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
一、產(chǎn)品優(yōu)勢:
1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好.
2.四通道測試,可以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品，方便快捷
3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)
二、《符合ASTMD150和 D2149-97國際標(biāo)準(zhǔn)>>
<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法;》
三、產(chǎn)品特點(diǎn)
1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能；
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能;
3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線，時(shí)間和電壓變化的曲線；
4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求。
主要技術(shù)指標(biāo)：
|
測量溫度： 室溫-1000°C
|
升溫斜率：2°C /min
|
|
頻率范圍：20-30MHZ
|
精度：0.05%
|
|
測量精度： ±0.1°C
|
控溫精度：±1°C（PID精準(zhǔn)控溫）
|
|
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好
|
測試方法：兩線法或四線法
|
|
測試通道數(shù)：1-4通道
|
一次可測樣品數(shù)：1-4個(gè)樣品
|
|
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸
|
測量精度：0.05%
|
|
AC電平： 0V 到 1V rms
|
直流偏壓：0到±40V/100mA
|
|
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：EXCEL表格等多種格式
|
加熱方式：電阻絲加熱
|
|
真空度范圍：100 Pa-1大氣壓
|
電極材料：鉑金
|
|
數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口
|
儀器通訊：USB或GPIB
|