上海伯東客戶某具有 20年集成電路芯片設(shè)計生產(chǎn)的半導(dǎo)體公司, 采購 inTEST ATS-545-M 高低溫測試機用于工業(yè)級通用微控制器 MCU 的高低溫測試, 微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于手機, 打印機, 工業(yè)控制, 醫(yī)療設(shè)備, 汽車電子以及智慧家庭等領(lǐng)域. 其中, 汽車是 MCU 最大的應(yīng)用市場, 傳統(tǒng)汽車單車會平均用到 70個左右, 而新能源汽車則需要用到 300多個, 應(yīng)用領(lǐng)域包括 ADAS, 車身, 底盤及安全, 信息娛樂, 動力系統(tǒng)等, 幾乎無處不在.
微控制器 MCU 芯片需要進行溫度測試
通電測試時, 單一芯片需要在模擬環(huán)境下, 也就是不同的溫度下, 測試不同的參數(shù), 驗證是否滿足設(shè)計的功能性, 比如通過高低溫測試機模擬溫度 80℃, 監(jiān)測運行多個參數(shù).
芯片進行高低溫測試時, 除了連接高低溫測試機外, 同時連接一些線纜接到專門的信號檢測儀器上, 查看在特定溫度下 -40℃ 至 160℃ 芯片的功能, 比如運行頻率,功耗等. inTEST 高低溫測試機的主要作用就是快速提供需要的模擬環(huán)境溫度, 解決了因為環(huán)境受限的芯片高低溫測試難題.
針對客戶提出的測試要求, 上海伯東提供微控制器 MCU 芯片高低溫測試解決方案
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推薦選用美國 intest Thermostream 熱流儀 ATS -545 可滿足客戶的測試標準條件.
1. ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的測試溫度
能夠提供有效的均勻的吹掃氣流垂直的吹到客戶所需要的元器件的表面, 4 to 18scfm 風(fēng)速供客戶根據(jù)不同要求提供選擇
2. 提供標準配件, 接受客戶定制, 滿足不同測試的元器件所需要的適當(dāng)尺寸
3. 在溫度點之間的跳躍, 更快的速度實現(xiàn)切換, 變溫速率 -55至 +125°C <10 s, 溫度精度 ±0.1℃, 可以做 12組不同形式的循環(huán)溫度設(shè)定.
4. 并且以上操作不影響其他非測試元器件. 保證客戶的單向分析
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