行業標準嚴格地講，不僅僅國內沒有沒有專門命名為半導體照明的標準,國外目前也沒有專門命名為半導體照明的標準，只有有關普通LED的測試標準和與普通光源有關的照明方面的標準。

普通LED的測試標準有：

 
（1）IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

IEC60747-5半導體分立器件及集成電路

（2）IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)

IEC60747-5-2分立半導體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

（3）IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)  

IEC60747-5-3分立半導體器件及集成電路
零部件5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

（4）IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3:optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)

 
IEC60747-12-3半導體分立器件12-3：光電子器件
—顯示用發光二極管空白詳細標準（1998-02）

（5）CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997 LED測試方法（1997）

國際照明委員會（CIE）1997年發表CIE127-1997 LED測試方法，把LED 強度測試確定為平均強度的概念，并且規定了統一的測試結構和探測器大小，這樣就為LED 準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE 127－1997 測試方法并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業都已采用。但是隨著技術的快速發展，許多新的LED技術特性CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。

 
目前，隨著半導體照明產業的快速發展，發達國家非常重視LED測試標準的制訂。如美國國家標準檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準。同時，許多國外大公司的研究和開發人員正在積極參與國家和國際專業化組織，制訂半導體照明測試標準。
如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術的交叉授權，并準備聯合制訂功率型LED標準，以推動市場應用。